Das 23. European Test Symposium (ETS), eine der bedeutendsten Konferenzen für den Test elektrischer Schaltkreise und Systeme, wird vom 28. Mai bis zum 1. Juni 2018 an der Universität Bremen stattfinden. Es wird von der Deutschen Forschungsgemeinschaft (DFG) unterstützt und mit insgesamt 25.000 Euro gefördert.
Das Symposium ist eine Veranstaltung des Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), dessen weltweitem Berufsverband Ingenieurinnen und Ingenieure aus den Bereichen Elektrotechnik und Informationstechnik angehören. Beim ETS werden neue Ideen und Trends im Bereich Test und Zuverlässigkeit elektrischer Schaltkreise und Systeme vorgestellt. Die Themengebiete der Konferenz umfassen den digitalen und analogen Test von Schaltungen sowie die Verbesserung der Testbarkeit und die Reduzierung der Kosten. Neben klassischen Computerchips wird auch die Prüfung neuartiger Technologien wie Microfluidic Chips behandelt. Die Teilnehmerinnen und Teilnehmer kommen sowohl aus der Wissenschaft als auch aus der Industrie.
In Verbindung mit der ETS findet zudem die dreitägige Test Spring School (TSS) vom 25. bis 28. Mai 2018 im Schloss Etelsen in Langwedel statt. Dort werden die Herausforderungen moderner Sicherheitstechnologien präsentiert. In diesem Jahr steht die Sicherheit von Hardware im Fokus. Die Test Spring School richtet sich gezielt an Nachwuchswissenschaftlerinnen und -wissenschaftler sowie Doktoranden.
