Ziel des Teilprojekts ist es, supraleitende Nanoleitungen (für supraleitende Nanoleitung-Einzelphotonendetektoren SNSPDs) und normal Metall/Isolator/Supraleiter-NIS-Tunnelverbindungen (für Festkörperkühlsysteme) auf ganzen Wafern für statistische Auswertungszwecke zu charakterisieren und zu analysieren. Dabei gliedert sich die Arbeit in folgende zwei Hauptteile: Zunächst die Definition, Konzeptionierung und Implementierung der Charakterisierungsmethodik und Praxis hinsichtlich Hardware und insbesondere Software in vorm von Messfunktionen. Darauf basierend und eventuell wechselwirkend folgt kryogene Wafer Charakterisierung, Analyse und Auswertung der Daten mit Schwerpunkt kryo Statistik.