Das Projekt RESIST ist ein europäisches Projekt im Rahmen der EUREKA-Initiative CATRENE mit Teilnehmern aus den Niederlanden und Frankreich. Die Projektpartner werden Verfahren und Methoden zur Sicherstellung einer langen Lebensdauer von elektronischen Systemen erforschen. Das Ziel sind langlebige und gegen Umwelteinflüsse robuste Produkte, die auch in der Lage sind, ihren möglichen Ausfall rechtzeitig anzuzeigen und den Anwender der elektronischen Systeme rechtzeitig zu warnen. Im Vordergrund stehen Ansätze, die die notwendige Leistungsfähigkeit in der Signal- und Informationsverarbeitung sichern und Sub100nm Technologien fit zu machen für den sicherheitskritischen Bereich. MunEDA wird im Projekt RESIST in Kooperation mit den Projektpartnern Methoden zur Erstellung sogenannter parametrierter Response Surface Modellen (RSM) für Eigenschaften von Schaltungen auf Blockebene erforschen. Diese Modelle geben das Verhalten einer Schaltungseigenschaft (z.B. Leistungsaufnahme, Verstärkung eines Operationsverstärkers, …) in Abhängigkeit von Parametern (z.B. Versorgungsspannung, Temperatur, …) wider. Das Hauptaugenmerk soll hierbei auf der Berücksichtigung zuverlässigkeitsreduzierender Effekte (z.B. Alterung oder Prozessvariationen als Parameter über die die Modelle erstellt werden), einem geringen Fehler der erstellten Modelle im Vergleich zu Ergebnissen aus der Schaltungssimulation und einer effizienten Erstellung der Modelle liegen. Mit diesen Modellen wird es möglich sein, die Auswirkung von Störgrößen, wie z.B. Prozessvariationen und auch Alterungseffekten, auf höhere Abstraktionsebenen(z.B. der Systemebene) zu portieren und gleichzeitig die Validierungszeit, im Vergleich zur Validierung mit Fast-SPICE-Simulationen, signifikant zu beschleunigen.