Innerhalb des Rahmens von TRACE will NXP Semiconductors Germany innovative Transferkonzepte für elektronische Komponenten der Konsumelektronik in die Automobilelektronik, wie z.B. Security Elemente, Komponenten im Bereich der Schnittstellentechnik (Connectivity) wie z.B. Interface-Protection und Filterkomponenten, Leistungskomponenten, sowie Komponenten im Bereich drahtloser Kommunikation erforschen. Dies beinhaltet wissenschaftlich/technische Aspekte der Systemarchitektur, wie z.B. Chip-Design, innovative Gehäusetechnologien wie z.B. leadless package architectures und waferlevel chip-scale-package (WL-CSP) Architekturen sowie Board mounting Technologien, aber auch funktionale Testkonzepte für Security & connectivity elements in der Automobilwelt. Sicherheit (security), Schnitttstellen (connectivity) und Kommunikation (communication) bilden die Kernkompetenzen für die Mega-Trends der technischen Innovationsfelder der Automobilelektronik. NXP Semiconductors Germany plant folgende Arbeitsplanung: 1. Im Rahmen einer Spezifikations-und Systemanalyse (WP2) sollen Anforderungen und Voraussetzungen für den Einsatz von Unterhaltungselektronikkomponenten in der Automobilelektronik erarbeitet werden. 2. In der Technologiephase (WP4) wird NXP verschiedene Technologien für leadless und Wafer Level CSP Technologie untersuchen, um robusten Elektronikkomponenten zu konzipieren. 3. Aspekte des Qualitäts- und Sicherheitsmanagements werden in WP5 untersucht. 4. In der Validierungsphase (WP7) wird NXP Test- und Validierungsverfahren untersuchen, um Security und communication-Komponenten für die Automobilelektronik zu untersuchen. 5. Demonstratoren werden gebaut (WP8) um die untersuchten Technologien und Verfahren zu erproben. 6. Aus den Ergebnissen werden Transferkonzepte (WP9) für die Überführung von Konsumelektronikkomponenten in die Automobilelektronik erarbeitet. 7. die gewonnen Erkenntnisse werden in Standardisierungsverfahren (WP10) in die allgemeinen Elektronikwelt übertragen.
Verbundprojekt: Transfer- und Qualifizierungsmethodik höchst- integrierter Elektronikkomponenten für die Automobil- und Automatisierungsindustrie - TRACE - ; Teilvorhaben: Schnittstellen-, Leistungs- und Kommunikationskomponenten
            
                
                    Laufzeit:
                    11.04.2016
                    
                        - 10.10.2019
                    
                
            
            
                
                    Förderkennzeichen: 16ES0496
                
            
            
            
        
			
				
						
								
									Koordinator: NXP Semiconductors Germany GmbH - BU Automotive, Business Line Car Infotainment & Driver Assistance
								
						
				
    
    
                        
    
	
	
	
			
					
            
            
            
                
                    Verbund:
                    Transfer- und Qualifizierungsmethodik höchstintegrierter Elektronikkomponenten für die Automobil- und Automatisierungsindustrie
                
            
            
            
                
                    Quelle:
                    Bundesministerium für Bildung und Forschung (BMBF)
                
            
            
				
					Redaktion:
					
					
              
                DLR Projektträger
              
						
				
            
			
				Länder / Organisationen:
				
					
					
				
					
					Österreich
				
					
					Frankreich
				
					
					Niederlande
				
					
					Schweden
				
					
					
				
					
					
				
			
			
				Themen:
        
          
              
            
				
          
              
            
				
          
              
            
				
          
              
            
				
          
              
            
				
          
              
                Förderung
              
            
				
          
              
                Information u. Kommunikation
              
            
				
			
            
            
            
		
	
    
	
        
	
    
    
		
    
            
                    
                            
																
																	Weitere Informationen
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