Der Projektvorschlag "Intelligent Reliability 4.0" hat das Ziel, die Zuverlässigkeit elektronischer Systeme entlang der gesamten Wertschöpfungskette zu verbessern. Elektronische Komponenten und Systeme sollen schneller zuverlässig sein, was bedeutet, dass Entwicklungsprozesse schneller in die Produktion überführt werden können und durch das grundlegende Verständnis physikalischer Ausfallmechanismen (PoF) und den Einsatz von Methoden der Künstlichen Intelligenz auch zu einem verbesserten Qualitätsniveau führen. Im Teilprojekt des ENAS werden pro-aktive Konzepte des "Design for Reliability" entwickelt und zum Vergleich und letztendlich der Kalibrierung durch datengetriebene Konzepte gegenübergestellt. Damit soll es möglich werden, Fehlerindikatoren bzw. Indikatoren des "Gesundheitszustandes" elektronsicher Systeme zu implementieren. Die dabei entwickelte Vorgehensweisen unter Einbeziehung von KI Methoden der im Projekt verbundenen Partner soll sowohl für den Bereich der Frühausfälle, d.h. der mit der Fertigungsqualität verbundenen Ausfälle, als auch für Langzeitausfälle entwickelt werden.